本文來源：深圳迪奧科技有限公司

　　利用攝像機（或數字相機）、光學鏡筒、照明光源以及機械運動系統的輔助，采集工件的光學圖像生成圖像信號，并對該圖像信號進行處理和要素幾何尺寸測量的無接觸測量儀器，稱為影像測量儀，也稱二次元測量儀。

　　在日常應用中，對于影像測量儀的性能，尤其是測量精度，有一些無法簡單解釋和不規范的說法，如：測量精度是多少？重復精度是多少？測量誤差是多少？

　　一臺影像測量儀，其測量精度固然與測量儀本身有關，尤其是搭載的圖像采集器件---攝像機（或數字相機）的性能，例如，搭載美國TEO品牌的影像測量專用攝像機TM-C6597E，測量精度就高于搭載其他攝像機的影像測量儀，如果搭載美國TEO品牌的TM-C520HP圖像采集系統，由于專用攝像機、均衡傳輸線、圖像采集卡，三者統一設計，匹配性極好，測試精度就更高，會比搭載一般攝像機的精度提高2.6倍。

　　但是，大家忽視了工件本身對測量精度也有影響。因為一臺定型后的合格影像測量儀，搭載的攝像機(或數字相機)、光學鏡筒、照明光源等都已固定，不同的被測工件，由于工件形狀、材質屬性、感光性能、反射光譜的不同，攝取的光學圖像本生就并非能夠準確表現真實工件。那么從光學圖像生成的圖像信號也不可能真實反映工件實物，因為工件不同，測量精度自然就差異很大。

　　為了檢驗一臺影像測量儀的精度高低。有兩個方法，一種是在兩臺影像測量儀上分別測試同一個已知屬性和幾何尺寸的工件，比較二者測量讀數與真實尺寸的差異，以確定哪一臺測量儀精度高，但是，還會出現不同屬性的工件（例如金屬與塑膠），同一臺測量儀測量精度差異就很大。

　　另一種方法就是采用同一個符合國標的標準器（量塊、線紋尺、點陣掩膜版），檢驗影像測量儀的測量精度，這種方法測試的精度用一個專用術語表示，即：示值誤差E。影像測量儀對標準器測量，其測量值與標準器的實際值之差，定義為示值誤差E。

　　此種檢驗方法排除了工件本身，對測試結果的影響。是國家標準規范的唯一科學、無爭議的方法。具體檢驗方法可參見已于2010年9月1日由國家標準管理委員會正式發布實施的GB/T 24762—2009《產品幾何技術規范(GPS) 影像測量儀的驗收檢測和復檢檢測》國家標準和已于2016年6月1日由國家工業和信息化部正式發布實施的JB/T 12639—2016《閃測影像測量儀》部頒標準。

　　另外，示值誤差反映了測量儀測量值的偏差程度，但是示值的精確程度如何表述呢？ 按照國家標準，有一規范術語定義此準確程度，即：最大允許誤差MPEV（Maximum Permissible Errors Value)或允許誤差限(limit of error)。，是影像測量儀規定的示值誤差最大允許范圍。允許誤差極限有上限和下限，通常為對稱限，所以用量值表示時應有“±”號。它是影像測量儀的重要技術指標，反映測量儀的準確度。一般測量長度的的最大允許誤差為：

　　MPEV =±(E+L/200)μm

　　其中E:示值；L:被測標準器長度

　　綜上所述，影像測量儀的測量精度，應該用兩個指標表述，示值誤差E和最大允許誤差MPEV。