一個成功的VLSI設(shè)計.少不了一個完備的測試, 芯片測試工作是一個嚴(yán)密和系統(tǒng)的工作。[dt_gap height="5" /]
芯片測試應(yīng)該包括兩個含義.一個是流片前各個設(shè)計階段作品的測試；另一個是流片后對實(shí)際芯片的測試。這里主要是指流片前的芯片測試，這樣的測試實(shí)際上是對 芯片功能的一個全面驗(yàn)證，在設(shè)計團(tuán)隊中與芯片設(shè)計并列的一項(xiàng)工作。這項(xiàng)工作需要一個周密的像芯片測試計劃，一個具有針對性的芯片測試平臺。[dt_gap height="5" /]
芯片測試計劃是保證測試成功的基礎(chǔ)，測試計劃包括時間、地點(diǎn)、任務(wù)等內(nèi)容.其重點(diǎn)是測試覆蓋率的計算、設(shè)計和執(zhí)行。理論上覆蓋率的定義是，測試5覆蓋率= 測試到的邏輯組合數(shù)/邏輯組合總數(shù)。在實(shí)際操作中,通常根據(jù)需要重新定義測試瘦蓋率。指定計劃的原則是盡量早發(fā)現(xiàn)錯誤，越早發(fā)現(xiàn)錯誤需要重新做的修改丁作 就越少,效率也就越高。把這個概念上升到測試原則來認(rèn)識對于制定計劃和測試操作都會有好處。[dt_gap height="5" /]
芯片測試平臺以仿真工具軟件包為核心，軟件包提供一個完整的仿真環(huán)境，包括測試文件、標(biāo)準(zhǔn)測試向量文件（Test-Vector File)、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件(Data File）和一些必要的輔助程序，如在芯片測試數(shù)據(jù)輸出文件和標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件之間進(jìn)行比較、報錯.如圖1所示。芯片測試文件設(shè)置基本測試環(huán)境，調(diào)入被測試模塊和標(biāo)準(zhǔn)測試向量文件進(jìn)行測試，輸出測試結(jié)果，并與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)文件進(jìn)行比較。如果出現(xiàn)錯誤，通常需要在仿真丁具軟件包提供的時序波形上進(jìn)行査錯。

圖1 仿真與測試