OD7000是一款高精度位移傳感器，采用光譜共焦技術(shù)，以非常高的精度測(cè)量非常小的距離。

　　白光通過光纖和光纖耦合器傳輸?shù)教筋^，探頭中的透鏡將白光分成不同的波長(zhǎng)并聚焦。每個(gè)波長(zhǎng)都有自己的焦點(diǎn)的目標(biāo)表面被最大程度地垂直反射的回傳感器頭和光纖接收，并被轉(zhuǎn)移到控制器中的光譜儀進(jìn)行分析聚焦目標(biāo)表面的波長(zhǎng)比其他波長(zhǎng)反射更強(qiáng)烈。

　　光譜顯示出明顯的峰值這個(gè)光譜峰對(duì)應(yīng)一個(gè)距離，可以用來有效確定到目標(biāo)表面的距離。

　　該傳感器由控制器和探頭組成，結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成。控制器可選配編碼器輸入，都具有以太網(wǎng)接口，節(jié)省成本。

　　OD7000主要面對(duì)的是終端用戶、集成商和E&S行業(yè)的OEM商，在面對(duì)在傳統(tǒng)激光位移傳感器無法有效測(cè)量時(shí)，OD7000也可以提供解決方案。

　　01

　　產(chǎn)品特點(diǎn)

　　● 配備RS-422和以太網(wǎng)接口

　　● 三種測(cè)量范圍:600μm、4mm、10mm分辨率為25nm、180nm和400nm

　　● 線性度為198nm、1.4μm和4μm

　　● 緊湊的控制器尺寸

　　● 簡(jiǎn)單易于使用的配置軟件

　　02

　　應(yīng)用范圍

　　● 玻璃測(cè)厚（單頭）

　　● 玻璃平面度測(cè)量(多傳感器頭)

　　● 涂料、膠水、漿料或密封劑的厚度

　　● 測(cè)量太陽能硅片鋸痕

　　● 檢測(cè)透明薄膜厚度測(cè)量(單傳感器頭)

　　● 不透明薄膜厚度測(cè)量(兩個(gè)傳感器頭)

　　03

　　性能參數(shù)

　　04

　　應(yīng)用場(chǎng)景

　　應(yīng)用1：玻璃行業(yè)—單頭測(cè)厚

　　應(yīng)用2：電子和光伏行業(yè)—

　　太陽能硅片測(cè)量平整度以及分選

　　應(yīng)用3：機(jī)械制造和消費(fèi)品行業(yè)—

　　薄膜厚度檢測(cè)

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