數(shù)字圖像相關(guān)（DIC）技術(shù)通過比較兩幅或多幅圖像之間的像素位移來分析物體的變形情況，通過三維重建以及數(shù)字圖像相關(guān)算法計算得到該過程中的3D位移場、3D應(yīng)變場、3D變形場數(shù)據(jù)。

DIC測試技術(shù)是通過捕捉試樣表面的特征點，對特征點的位置進行計算從而計算試樣表面的變形信息。DIC測試技術(shù)可用于研究分析試樣在受力過程中的全場應(yīng)變的演化，分析試樣在加載過程中不同局域的應(yīng)變分布情況以及強弱結(jié)構(gòu)的布置對于試樣受力變形以及破壞的影響。

新拓三維XTDIC三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)，基于數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）和標記點跟蹤測量技術(shù)，為產(chǎn)品的研發(fā)測試提供可靠精準的測量數(shù)據(jù),可用于材料力學性能測試、零部件疲勞、強度、振動分析等力學行為表征。

1、光學器件DIC全場變形測試

在光學器件的生產(chǎn)過程中，除了對光學元器件進行反復(fù)模擬和加工以減少成像或者光路誤差之外，裝配工藝也是直接影響系統(tǒng)性能和精度指標的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

在光學器件機械安裝過程中，器件的振動和變形產(chǎn)生的誤差會直接影響產(chǎn)品精度指標和性能，因此測量光學器件在裝配過程的位移和振動是非常關(guān)鍵的。XTDIC三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)在全場非接觸位移振動檢測中優(yōu)勢凸顯，可以全程監(jiān)控在實際生產(chǎn)和安裝過程中誤差產(chǎn)生的位置和過程，從而可以對裝調(diào)過程進行精度指標優(yōu)化。

DIC測試流程

數(shù)字圖像相關(guān)法（DIC）通過跟蹤物體表面散斑圖案的變形過程，計算散斑域的灰度值變化，從而得到被測物體表面的變形和應(yīng)變數(shù)據(jù)。

作為光學器件加工產(chǎn)品，被測物表面噴涂散斑漆不太現(xiàn)實，新拓三維技術(shù)工程師采用貼點的方式，針對可能出現(xiàn)位移或者振動的位置進行動態(tài)監(jiān)測。

DIC位移測量設(shè)備架設(shè)

DIC技術(shù)測試實驗過程分為兩個部分，測量板材在光學器件安裝的過程中是否發(fā)生相對的位移或者振動；測量反射鏡等元器件在實際安裝過程中產(chǎn)生的角度和位置變化。

DIC測試數(shù)據(jù)分析

DIC測試技術(shù)可以快速分析光學器件零部件在裝配過程中的偏移和振動,對零部件力學特性進行實時跟蹤,以實現(xiàn)定量測試驗證和調(diào)整裝配的工藝和方案。

如上圖所示， XTDIC三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)首可對光學器件裝配過程中關(guān)鍵邊緣點的位移和距離進行監(jiān)測和測量，測出實際產(chǎn)生的安裝誤差約為0.01微米。

如上圖所示， XTDIC三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)主要監(jiān)測光學器件安裝反光鏡過程中，鏡面平面和基底平面產(chǎn)生的角度變化，測量的誤差值約為0.1°。

2、齒輪嚙合變形測量

齒輪傳動具有傳動精度高，傳動比固定，工作可靠等優(yōu)點，同時齒輪嚙合故障問題也備受工程人員關(guān)注。

采用XTDIC三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)對齒輪動態(tài)嚙合過程進行測試，了解齒輪嚙合過程中的動態(tài)變形，數(shù)據(jù)有助于優(yōu)化齒輪部件，有效地提高齒輪性能和壽命。

齒輪嚙合分析難題

通過分析齒輪動態(tài)嚙合變形，是了解齒輪振動情況的有效途徑，但齒輪動態(tài)變形計算，傳統(tǒng)的分析手段存在不少的難題：

1、理論研究和仿真驗證，缺乏真實加載數(shù)據(jù)驗證

2、無法對齒輪表面進行全場測量，難以記錄試樣關(guān)鍵位置的變形

3、缺少齒輪動態(tài)嚙合力和變形情況的有效測試方法。

DIC三維變形測量方案

數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）可測量3D全場表面位移、變形、應(yīng)變和振動頻率，且無需與試樣接觸。

新拓三維XTDIC三維光學應(yīng)變測量系統(tǒng)，測試齒輪嚙合轉(zhuǎn)動過程中，齒輪嚙合部位在負載下的變形和應(yīng)變；在施加制動力之后，測量齒輪的變形和振動頻率。

從DIC分析數(shù)據(jù)可以看出，在齒輪運轉(zhuǎn)過程中，齒輪支撐負重部位變形明顯，測試數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出以驗證FEA模型，優(yōu)化齒輪結(jié)構(gòu)性能，加速產(chǎn)品的最終結(jié)構(gòu)設(shè)計。

在被測區(qū)域中，XTDIC三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)測試結(jié)果與應(yīng)變片結(jié)果基本吻合，并能提供全場應(yīng)變和位移數(shù)據(jù)，并準確測得關(guān)鍵部位的應(yīng)變區(qū)域。