水冷板覆膜厚度測量難點(diǎn)
- 環(huán)境振動干擾測量穩(wěn)定性：產(chǎn)線高頻振動易致測量數(shù)據(jù)漂移，重復(fù)性差，難以保證覆膜厚度測量的一致性。
- 膜厚差異與結(jié)構(gòu)復(fù)雜性：水冷板存在多種厚度規(guī)格，且表面常有坡度、凹槽等復(fù)雜形貌，對傳感器測量范圍與入射角度提出更高要求。
- 反射光強(qiáng)過高與信號干擾：高反射區(qū)的強(qiáng)反射光不僅可能超出傳感器的動態(tài)范圍，還可能產(chǎn)生強(qiáng)烈的背景光，干擾覆膜厚度測量并導(dǎo)致信號失真。
檢測需求
測量項(xiàng)目：水冷板表面覆膜厚度
工件尺寸：約1000x60x5mm
精度要求：≤3μm
速度要求：≤4.5s/件
深視智能點(diǎn)光譜應(yīng)用優(yōu)勢
針對上述痛點(diǎn)與需求，深視智能一體式光譜共焦位移傳感器通過 “高速采樣+高精度+抗干擾算法”三大優(yōu)勢，全面提升水冷板表面覆膜厚度測量的可靠性、速度與適應(yīng)性。
01 高速采集，契合產(chǎn)線節(jié)奏
深視智能光譜共焦位移傳感器（型號：SCI04025）支持0.5-33kHz高頻采樣，兼容240mm/s的產(chǎn)線掃描速度；結(jié)合編碼器觸發(fā)模式，可實(shí)現(xiàn)0.01mm點(diǎn)間隔的精密測量，有效保障在高速運(yùn)動條件下測量點(diǎn)位的完整性與數(shù)據(jù)可靠性。
 圖 | 水冷板測量點(diǎn)位圖
02 高精度與重復(fù)性，保障測量可靠
基于光譜共焦原理，深視智能光譜共焦位移傳感器可生成12μm光斑，搭配16mm工作距離與4mm測量范圍，覆蓋不同規(guī)格水冷板覆膜厚度變化區(qū)間，甚至可檢測130μm透明膜層厚度變化，準(zhǔn)確捕捉波谷位置（膜厚關(guān)鍵管控區(qū)域）的細(xì)微數(shù)據(jù)。
 圖 | 左：水冷板波谷測量點(diǎn)位 右：水冷板膜厚度測量數(shù)據(jù)
在240mm/s模擬產(chǎn)線速度下，深視智能光譜共焦位移傳感器對同一水冷板進(jìn)行10次靜態(tài)測量，覆膜厚度重復(fù)性最大偏差僅為0.6μm，遠(yuǎn)優(yōu)于3μm的精度要求。
 圖 | 水冷板覆膜厚度測量數(shù)據(jù)表
*注：上述數(shù)據(jù)基于實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境所得，實(shí)際應(yīng)用中可根據(jù)產(chǎn)線條件微調(diào)，確保偏差仍控制在需求范圍內(nèi)。
03 抗干擾算法應(yīng)對復(fù)雜場景
針對水冷板表面高透明漆層、高反光基材、低反射率坡度區(qū)等復(fù)雜場景，深視智能光譜共焦位移傳感器通過以下技術(shù)提升信噪比與數(shù)據(jù)有效性：
- 自研感光算法：精準(zhǔn)過濾環(huán)境光與震動干擾，針對高反射區(qū)的強(qiáng)反射光，有效抑制背景光干擾，增強(qiáng)弱反射區(qū)域的信號識別能力，確保測量信號的純凈度和準(zhǔn)確性
- 光源光學(xué)設(shè)計(jì)：通過調(diào)整光源的強(qiáng)度和波長，傳感器能夠有效避免因反射光過強(qiáng)導(dǎo)致的信號飽和問題，確保測量信號的穩(wěn)定性和可靠性，避免漏檢和誤檢。
深視智能傳感器推薦
深視智能光譜共焦位移傳感器以微米級精度保障覆膜厚度均勻性，有效提升水冷板散熱可靠性及產(chǎn)品良率，同時具備高速采樣、強(qiáng)抗干擾能力和產(chǎn)線適配性，減少改造與維護(hù)成本。
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