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        獲得射頻儀器最大功效的最優(yōu)方法
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        概覽
            現(xiàn)代射頻儀器具有遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過其前代產(chǎn)品的令人印象深刻的測量能力和精度。然而,如果不能提供高品質(zhì)的信號,這些儀器就不能充分發(fā)揮其潛能。完備的測量方法和注意事項(xiàng)可以保證您能夠充分獲取在射頻儀器上投資的收益。
        獲得可靠的射頻測量
            射頻測量通常在理論上很簡單,但付諸實(shí)施的時候卻困難重重。您能夠很容易地從當(dāng)代射頻儀器所提供的廣泛測量手段中獲得核心的射頻測量結(jié)果,例如功率,頻率和噪聲。但是,獲得結(jié)果與獲得正確結(jié)果則有著天壤之別。通過在您的整個射頻測量過程中執(zhí)行最優(yōu)方法,您可以確保一個可靠、精確并且可重復(fù)的結(jié)果。 
        理解專業(yè)術(shù)語
            例如精度、可重復(fù)性、分辨率和不確定性這些專業(yè)術(shù)語經(jīng)常在各種各樣的射頻應(yīng)用中被混雜和誤用,從而增加了混亂,減少了測量的可信性。在進(jìn)行射頻測量時理解一些關(guān)鍵的專業(yè)術(shù)語和它們的適用環(huán)境是必要的。
            例如,當(dāng)想要在相近刻度上辨明正確的讀數(shù)時,儀器上的數(shù)字顯示會比模擬的測量儀表更容易使用。然而,即使數(shù)字顯示對一次測量給出了小數(shù)點(diǎn)后的三位數(shù)字,你也不能推斷出該儀器及其測量的分辨率和精度。
            因?yàn)轱@示給出千分之一分貝的功率或分?jǐn)?shù)赫茲的頻率并不意味著該儀器具有測量這些細(xì)微變化的能力。通常這些顯示的位數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了儀器在這一水平的測量能力。要充分了解一個射頻儀器的測量能力,往往要參考說明書或數(shù)據(jù)表。
        前后一致的定義可以減少您測量中可能出現(xiàn)的混淆。以下是您在使用中會經(jīng)常看到的一些關(guān)鍵術(shù)語:
        • 分辨率 -  儀器所能可靠檢測到的最小改變
        • 重復(fù)性 -在同樣條件下多次進(jìn)行同一測量獲得相同結(jié)果的能力
        • 不確定性-對被測量的準(zhǔn)確值缺乏認(rèn)知部分的量化
        • 精度- 儀器 在一定誤差范圍內(nèi)測量一個參數(shù)實(shí)際/絕對值的能力
            不確定性是始終存在的,對誤差來源的評估可以幫助確定測量的不確定度。除上述外,還有一些相關(guān)術(shù)語在依據(jù)美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所(NIST)或其它標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)的說明文件來描繪性能時會有用。 可描述性是保證所有的測量器件有一個共同的絕對基準(zhǔn)所必須的。所謂“規(guī)范”是指保證性能由校準(zhǔn)溯源到NIST的測試設(shè)備產(chǎn)生。“典型”往往意味著性能是百分之百測試,但不包括測量不確定因素。“象征性”的表現(xiàn)通常是補(bǔ)充信息,不是在每個儀器上的普遍測量。
            精度是儀器在規(guī)定的誤差范圍內(nèi)測量參數(shù)絕對值的能力。換句話說,X加減Y,沒有誤差限制(和單位)一個34的測量值是沒有意義的。同樣地,一個5的誤差說明也是沒有用的,甚至一個百分之五的誤差說明也幾乎沒有幫助。那到底是正或負(fù)百分之五,還是正百分之三和負(fù)百分之二?為了準(zhǔn)確,精度應(yīng)該像這樣規(guī)定,例如34 V +/- 1 V, 34 V +/- 1%, 或 34 V +2/-1 V。
            請多花時間了解射頻測量的術(shù)語并熟悉它們的意義。您關(guān)于測量的表達(dá)越準(zhǔn)確,結(jié)果就越利于理解也越可信。
        了解你的被測試裝置
            被測試裝置(DUT)的性能會顯著影響射頻測量。例如,溫度會影響穩(wěn)定性,并因此與可重復(fù)性密切相關(guān)。許多射頻器件和射頻儀器沒有對溫度變化的內(nèi)部補(bǔ)償。因此,它們必須在穩(wěn)定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測量誤差最小。當(dāng)前的環(huán)境(例如,空調(diào)循環(huán)的開啟與關(guān)閉,覆蓋物和面板的移除或增加,處于戶外或室內(nèi),以及是否接近熱源)會有很大影響。需要注意適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時間、被測試裝置的冷卻需求和周邊的環(huán)境以確保溫度穩(wěn)定性。
            在有源器件中,過高的功率會導(dǎo)致發(fā)熱。例如,在測試高功率放大器時,被測試器件本身可以保持溫度穩(wěn)定,但是下游組件會怎么樣呢?看看是否有開關(guān)或衰減器因?yàn)榉糯笃鞯妮敵龆患訜帷ふ矣煞糯笃鳟a(chǎn)生的異常信號,例如諧波。電源線容易受到可直接疊加到輸出的環(huán)境噪聲的影響。而且,測量放大器的線性參數(shù)(增益和相位),隨后卻發(fā)現(xiàn)放大器同時處于被壓縮狀態(tài)是令人沮喪的。所有這些都影響了射頻測量的精度。在器件被測試前對其本身、其運(yùn)作方式以及它對射頻測量參數(shù)的影響進(jìn)行了解,會得到有意義的結(jié)果。
        識別出現(xiàn)不確定性的方面
            僅僅匹配射頻測試設(shè)備的數(shù)據(jù)表格說明與被測試裝置的測試要求是不夠的。這在更高頻率或者失配的射頻測量中尤其明顯,除其它外,還有放大不確定性。在測量的每個步驟中引入的誤差會使總體結(jié)果出現(xiàn)偏差。當(dāng)一個不正確的測量結(jié)果出現(xiàn)時,你應(yīng)該在質(zhì)疑被測量裝置存在問題之前首先懷疑測量出現(xiàn)錯誤。
            請在測量過程中了解儀器儀表以及被測試裝置的關(guān)鍵操作規(guī)范。在其它規(guī)范中,了解匹配,頻率響應(yīng),噪聲系數(shù)和功率。同時,也要了解這些參數(shù)的容許誤差。請記住如下要素:
        • 射頻開關(guān)重復(fù)性,老化和功率處理
        • 耦合器的指向性,電纜的相穩(wěn)定性以及適配器的插入損耗和回波損耗
        • 電路板線路的阻抗質(zhì)量,器件插座和電路板的開關(guān)轉(zhuǎn)換
        • 測量中的電磁干擾(EMI)輻射和耦合
            一些通常沒有被認(rèn)真考慮的項(xiàng)目,例如冷卻、諧波、激勵以及其他非線性行為也能夠增加測量中的誤差。審視整個測試設(shè)備并確定每一塊的誤差分布以獲得對預(yù)期測量不確定性的實(shí)際評價。找出誤差原因和它們對精度、重復(fù)性和不確定性的影響。這可以得到更好的結(jié)果,使您能更加有效和有意義地分配預(yù)算和資源。
        注意所有的連接和組件
            開發(fā)、設(shè)計、測試以及將產(chǎn)品推廣到市場這一系列的花費(fèi)是一筆相當(dāng)大的投資。一個公司的成敗與否取決于產(chǎn)品的性能。在高性能的射頻測試設(shè)備上的支出是有重要意義的,因?yàn)檫@能夠表明產(chǎn)品達(dá)到或超過與市場份額掛鉤的關(guān)鍵技術(shù)要求。此外它還代表了一種競爭優(yōu)勢和公司收入的主要增加來源。
            然而,僅有一個高性能的,昂貴的,經(jīng)過良好校準(zhǔn)的測試系統(tǒng)和同樣性能顯著的被測試器件是不夠的,還應(yīng)該對被測試器件測試系統(tǒng)中的附屬連接和組件的質(zhì)量和重復(fù)性給予同等的關(guān)注。也許在關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo)上十分之一或二的改進(jìn)都是一個有競爭力的優(yōu)勢。在大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)下,源和負(fù)載的匹配(駐波比)為1:1.5是不錯的,但是這種程度的匹配將引入一個錯誤的(大約)為+/-0.35分貝的失配不確定性。一個0.2分貝的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)不可能在這么多的不確定性影響下得到證明。
        容易忽視的項(xiàng)目例如電纜、開關(guān)、衰減器、連接器、插座、適配器和附件會不利于整個測量。從需要的精度出發(fā),然后選擇適合測量的組件。一個好的經(jīng)驗(yàn)法則會使測試系統(tǒng)性能十倍于你正在測試的被測試裝置的參數(shù)。
            有了一個高品質(zhì)信道,下一步是要采用好的測量方法。請確保你正確清潔和存放電纜、連接器和適配器。即使是最好的電纜和連接器失效了,也要放棄對它們的使用,它們是測試過程中的耗材。采取措施,盡量減少適配器的使用,確保扭矩扳手和連接規(guī)格按常規(guī)使用以使熱切換最小。請記住正確的靜電放電(ESD)做法。即使測試系統(tǒng)間最高品質(zhì)的元件和被測試裝置的級聯(lián)也可以引入測量誤差。
        為作業(yè)選擇適當(dāng)?shù)墓ぞ?/B>
            需要測量哪些參數(shù)和需要達(dá)到怎樣的精度水平很大程度上決定了測試被測裝置所需要選擇的射頻設(shè)備。最好的選擇是一個安全的策略,但它會浪費(fèi)你能夠用于測量其它方面的預(yù)算資源。如果射頻功率是要測量的唯一量,一個射頻功率計可能是比一臺矢量信號分析儀更理想的選擇。
            標(biāo)量儀器只測量幅度(振幅),而矢量儀器測量幅度和相位。即使不需要測量相位,也要考慮到矢量工具可以提供更好的誤差更正,因?yàn)橄辔恍畔⒖梢杂脕砹炕到y(tǒng)中不需要的反射。
            將價格與性能等同并不是在購買射頻儀器時應(yīng)遵循的最佳法則。一臺高質(zhì)量的掃頻調(diào)諧光譜分析儀將花費(fèi)你大量的預(yù)算。盡管它們在已有的測量用途上是優(yōu)秀的測量儀器,具有典型的± 1分貝或更低的測量精度,但它們卻難以達(dá)到測量絕對射頻功率的要求。同樣,如果使用的儀器具有-140 dBm/Hz的本底噪聲,那么它也很難測量出被測裝置上-155 dBm/Hz的本底噪聲。
            請為每項(xiàng)作業(yè)考慮合適的工具。為精度和不需要的測量付出太多不僅是對金錢和資源的浪費(fèi),它限制了用于例如對測量質(zhì)量更有利的電纜和開關(guān)等其它方面的資金。
        開發(fā)流程
            一旦你確定并執(zhí)行了最優(yōu)方法,就要使它們逐步成為能夠在團(tuán)體間清楚理解和交流的慣例或流程。這能夠使射頻測量結(jié)果具有更好的重復(fù)性和一致性。
            例如,一個關(guān)于流程的常見問題是“我應(yīng)該多久校準(zhǔn)一次?”許多射頻儀器往往是對環(huán)境變化敏感的。如果是這樣的話,更經(jīng)常的校準(zhǔn)可能是必要的。高精度的要求可能也需要更頻繁的校準(zhǔn)。無論如何,對射頻校準(zhǔn)的要求必須時刻牢記,并要將其作為嚴(yán)格遵守的流程。
            整個設(shè)計、驗(yàn)證、測試和制造階段的流程能夠影響射頻測量性能。考慮哪些操作參數(shù)需要驗(yàn)證,哪些應(yīng)該在制造中測試,以及影響射頻測量精度、重復(fù)性和不確定性的上游和下游工序(例如,返工,焊接,裝配和屏蔽)。
            流程對于獲得并執(zhí)行良好的射頻方法很重要。這有利于良好方法的常規(guī)學(xué)習(xí)和標(biāo)準(zhǔn)化。在產(chǎn)品壽命周期內(nèi)始終如一地遵循已建立的流程對射頻參數(shù)以及對它們的正確測量能夠產(chǎn)生重大的影響。
        提高射頻測量的質(zhì)量
            進(jìn)行射頻測量可以很容易;然而,要做好就比較有挑戰(zhàn)性。使用健全的方法并且在測量過程中找出它們可以提高射頻測量的品質(zhì)。有許多方法可以確定和執(zhí)行最優(yōu)方法。改進(jìn)射頻測量是一個獲得認(rèn)知和付諸實(shí)踐的連續(xù)過程。本文介紹的步驟有助于建立一種體系來提高射頻測量技術(shù)并充分利用您的射頻測試儀器。
         

         

        狀 態(tài): 離線

        公司簡介
        產(chǎn)品目錄
        供應(yīng)信息

        公司名稱: 美國國家儀器(NI)有限公司
        聯(lián) 系 人: 市場部
        電  話: 021-50509800
        傳  真: 021-65556244
        地  址: 上海浦東張江集電港二期張東路1387號第45幢
        郵  編: 201203
        主  頁:
         
        該廠商相關(guān)解決方案:
        使用NI DAQ搭建F-35飛機(jī)系統(tǒng)綜合設(shè)施(VSIF)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
        基于NI LabVIEW和PXI的自動天線測試
        使用LabVIEW記述電子元件特性,預(yù)防安全隱患
        借助LabVIEW、CompactRIO和Compact視覺系統(tǒng)來升級火箭熱點(diǎn)火試驗(yàn)設(shè)
        基于PXI的純電動車整車控制策略測試平臺開發(fā)
        一種基于PXI平臺的主動懸架臺架試驗(yàn)測控系統(tǒng)
        基于Labview與交流伺服電機(jī)的車輛換擋桿試驗(yàn)系統(tǒng)研究
        基于LABVIEW的電子產(chǎn)品測試
        基于PXI平臺的大型土工離心機(jī)綜合數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計與實(shí)現(xiàn)
        使用NI C系列I/O模塊對轎車底盤系統(tǒng)性能參數(shù)的快速采集
        用實(shí)時采集系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對車用電磁閥性能的微觀測試
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