Author(s):
Rabah Derradji - EDA Industries SRL 
F. Arcangeli - EDA Industries SRL
F. Magnino - EDA Industries SRL
L. Magni - EDA Industries SRL 
Industry:
Aerospace/Avionics, Semiconductor, Electronics, Government/Defense 
Products:
PXI-8176, High-Speed Digital I/O, LabVIEW 
The Challenge:
　　開(kāi)發(fā)一個(gè)具有開(kāi)放架構(gòu)的高通道數(shù)數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以利用現(xiàn)有的為傳統(tǒng)數(shù)字儀器創(chuàng)建的數(shù)字測(cè)試模式。 
The Solution:
　　利用NI PXI硬件、高速數(shù)字I/O硬件和LabVIEW軟件，創(chuàng)建一個(gè)具有LASAR導(dǎo)入功能的靈活數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)。 
　　"利用LabVIEW的虛擬儀器系統(tǒng)功能，我們能夠利用低成本的、開(kāi)放的硬件，設(shè)計(jì)一個(gè)滿足現(xiàn)時(shí)需求并提供擴(kuò)展未來(lái)軟硬件的靈活系統(tǒng)。"

　　軍方對(duì)具有保障和可靠操作的可維護(hù)測(cè)試系統(tǒng)的需求持續(xù)增長(zhǎng)。預(yù)算縮減、系統(tǒng)制造商與用戶之間的距離增加和這些系統(tǒng)的長(zhǎng)生命周期期望，都是驅(qū)動(dòng)改進(jìn)的必要性因素。制造商認(rèn)識(shí)到這些挑戰(zhàn)，并提供了專門設(shè)計(jì)的能夠在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行調(diào)試和修復(fù)的系統(tǒng)。這些修復(fù)機(jī)器已經(jīng)成為許多防御系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。

　　SELEX 系統(tǒng)集成公司（以前為阿勒尼亞馬可尼系統(tǒng)（AMS）公司）要求EDA 工業(yè)公司創(chuàng)建一個(gè)低成本的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)，以幫助現(xiàn)場(chǎng)修理和調(diào)試現(xiàn)有雷達(dá)系統(tǒng)。我們的系統(tǒng)設(shè)計(jì)旨在滿足用戶（這里是指雷達(dá)操作人員）以及制造商（SELEX 系統(tǒng)集成公司）的需求。

　　雷達(dá)操作人員需要自動(dòng)修復(fù)、一個(gè)開(kāi)放的可用于商業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的硬件平臺(tái)、維修成本的減少、對(duì)第三方依賴程度的降低。制造商要求我們的系統(tǒng)具有低維護(hù)成本以及采用來(lái)自數(shù)字仿真器工具現(xiàn)有測(cè)試模式（如LASAR 磁帶文件）的能力。

NI LabVIEW 與PXI 硬件
　　我們選擇來(lái)自NI的PXI平臺(tái)作為我們數(shù)字測(cè)試解決方案的基礎(chǔ)，并利用NI LabVIEW 創(chuàng)建定制的應(yīng)用軟件以滿足SELEX 系統(tǒng)集成公司的所有需求。利用LabVIEW 的虛擬儀器系統(tǒng)功能，我們能夠利用低成本的、開(kāi)放的硬件，設(shè)計(jì)一個(gè)滿足現(xiàn)時(shí)需求并提供擴(kuò)展未來(lái)軟硬件的靈活系統(tǒng)。
 
　　我們?cè)谠摻鉀Q方案中采用的PXI 硬件包括一個(gè)NI PXI-8176 嵌入式控制器、15 個(gè)NI PXI-655x 高速數(shù)字波形發(fā)生器/ 分析儀（300個(gè)通道的容量）和一個(gè)通過(guò)GPIB 控制的可編程的電源供應(yīng)單元。除了這些硬件外，我們創(chuàng)建了必要的機(jī)械工具，以及與這15 個(gè)高速數(shù)字模塊接口的受測(cè)單元（UUT）適配板卡。利用PXI 內(nèi)置的定時(shí)與同步的功能特性，我們方便地使用多個(gè)數(shù)字模塊以實(shí)現(xiàn)高通道數(shù)。

支持現(xiàn)有測(cè)試模式需求的軟件模塊
　　我們創(chuàng)建了三個(gè)功能強(qiáng)大的軟件模塊（虛擬儀器），以滿足我們對(duì)功能特性和與現(xiàn)有測(cè)試模式兼容的需求。第一個(gè)模塊是一個(gè)LASAR轉(zhuǎn)換程序模塊，它將來(lái)自LASAR仿真環(huán)境的輸出文件自動(dòng)轉(zhuǎn)換為HWS標(biāo)準(zhǔn)——一種與NI工具兼容的格式。下一個(gè)模塊是通/斷功能測(cè)試模塊，它可以動(dòng)態(tài)地或步進(jìn)執(zhí)行UUT 的測(cè)試規(guī)程。最后，我們創(chuàng)建的反向探測(cè)模塊在故障發(fā)生時(shí)引導(dǎo)完成故障搜尋與修復(fù)過(guò)程的操作。

　　LASAR 轉(zhuǎn)換程序模塊自動(dòng)將其他數(shù)字自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備所使用的現(xiàn)有測(cè)試信息（仿真器的輸出）轉(zhuǎn)換為適合我們的DTS-LASET 系統(tǒng)的格式。該模塊的主要目標(biāo)在于使得制造商和用戶能夠復(fù)用其傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備的現(xiàn)有功能特性，特別是反向探測(cè)部分，以實(shí)現(xiàn)向新的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)轉(zhuǎn)換所需成本最小化。

該轉(zhuǎn)換規(guī)程包含下列關(guān)鍵條目：
● 從LASAR 環(huán)境中選擇源文件（*.tap 文件）
● 生成轉(zhuǎn)換程序配置文件
● 生成HWS 格式的測(cè)試模式（激勵(lì)模式與期望模式）
● 生成DUT 數(shù)據(jù)庫(kù)

通/ 斷功能測(cè)試模塊
　　通/ 斷功能測(cè)試組件利用NI PXI-655x 數(shù)字波形發(fā)生器/ 分析儀，控制核心數(shù)字測(cè)試規(guī)程、激勵(lì)模式的生成和響應(yīng)數(shù)據(jù)的采集。該模塊也負(fù)責(zé)比較所采集響應(yīng)數(shù)據(jù)和期望數(shù)據(jù)。激勵(lì)數(shù)據(jù)與期望的響應(yīng)模式從轉(zhuǎn)換程序模塊的輸出中導(dǎo)出。

通/ 斷序列跟隨這些基本步驟：
● 選擇受測(cè)單元（UUT）
● 測(cè)試UUT
● 執(zhí)行測(cè)試規(guī)程
● 顯示所采集的響應(yīng)模式并將其與期望響應(yīng)比較

反向探測(cè)模塊
　　當(dāng)一個(gè)故障在通/ 斷模塊中注冊(cè)時(shí)，反向探測(cè)模塊引導(dǎo)用戶完成故障搜尋與修復(fù)過(guò)程。該模塊識(shí)別UUT 中的故障組件或連線。

　　利用來(lái)自板卡數(shù)據(jù)庫(kù)的信息和內(nèi)部節(jié)點(diǎn)（由轉(zhuǎn)換程序模塊提供）的模式數(shù)據(jù)，該模塊中實(shí)現(xiàn)的算法引導(dǎo)用戶完成故障搜尋規(guī)程。一個(gè)迭代算法詳細(xì)研究UUT 的電氣網(wǎng)絡(luò)，以識(shí)別產(chǎn)生故障的組件或連線。

反向探測(cè)步驟為：
● 選擇希望的測(cè)試選項(xiàng)
● 選擇待調(diào)試與修復(fù)的故障線路（如果多于一條）
● 顯示探測(cè)指令以引導(dǎo)用戶
● 測(cè)試當(dāng)前的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)

數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)與LASAR 導(dǎo)入程序解決方案
　　我們利用NI 軟硬件，為SELEX 系統(tǒng)集成公司（一家重要的歐洲國(guó)防合同商）創(chuàng)建了一個(gè)高性能、低成本的數(shù)字測(cè)試解決方案。我們?cè)谠撓到y(tǒng)的創(chuàng)建中并沒(méi)有依賴訂制硬件或引入高成本的通用測(cè)試設(shè)備。NI提供了創(chuàng)建與傳統(tǒng)供應(yīng)商的自動(dòng)化數(shù)字測(cè)試設(shè)備相媲美的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)所需的必要工具。我們的解決方案節(jié)約了30%的時(shí)間，并獲得了顯著的性價(jià)比優(yōu)勢(shì)。