IXplore SpinSR是一款專為高精度三維成像設計的共聚焦超分辨率顯微鏡，適用于對動態樣本進行快速、清晰的觀察。該系統基于轉盤式共聚焦技術，兼顧高速成像與低光損傷特性，使長時間觀測過程中的樣本穩定性得到顯著提升。

系統的核心優勢在于其獨特的奧林巴斯超分辨率技術（OSR），可實現高達120 nm XY分辨率的圖像細節捕捉。這一性能突破了傳統光學極限，無需依賴復雜的標記流程即可獲取高對比度、高清晰度的圖像。用戶還可通過一鍵操作在寬視場、共焦和超分辨率三種模式之間自由切換，滿足多樣化的研究需求。
IXplore SpinSR支持雙相機同步采集，實現多色快速成像，極大提升了數據獲取效率。配合高數值孔徑（NA 1.5）的平面復消色差物鏡，系統可在深層區域提供亮度與分辨率兼具的圖像表現，適用于多種類型的動態樣品分析。
此外，系統集成了TruSight反卷積算法，進一步優化圖像銳度與信噪比，使得結構邊界更加分明。無論是在細胞骨架、核結構還是神經元突觸等復雜結構的研究中，IXplore SpinSR都能提供穩定、直觀且高質量的數據支持。
這款顯微鏡系統不僅具備強大的成像能力，還以操作便捷性和實驗兼容性著稱，是現代材料科學、納米結構研究及先進成像應用的理想工具。
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