IXplore IX85 Spin 是一款集高速、高分辨率與穩(wěn)定性能于一體的全電動倒置顯微鏡系統(tǒng)，專為復(fù)雜材料和精密結(jié)構(gòu)的動態(tài)觀測而設(shè)計。該系統(tǒng)搭載 Yokogawa CSU-W1 轉(zhuǎn)盤共聚焦單元，能夠在長時間觀測中實現(xiàn)快速3D圖像采集，同時有效降低激發(fā)過程中的信號衰減和環(huán)境干擾。

高速3D成像與Z軸穩(wěn)定性
IXplore IX85 Spin 通過其先進的轉(zhuǎn)盤共聚焦技術(shù)，支持在寬視場下進行高效三維數(shù)據(jù)采集，特別適用于連續(xù)動態(tài)過程的高精度記錄。TruFocus Z漂移補償系統(tǒng)確保在長時間運行中每一幀圖像的清晰度，避免因位置偏移導(dǎo)致的數(shù)據(jù)失真，從而提升整體成像的準確性和重復(fù)性。
系統(tǒng)配備 X Line光學(xué)組件，優(yōu)化了光信號的收集效率，進一步增強圖像對比度和細節(jié)還原能力。此外，新型 LUPLAPO25XS 多層介質(zhì)物鏡結(jié)合自動校正技術(shù)，實現(xiàn)了更高的數(shù)值孔徑與長工作距離，使用戶能夠深入探測復(fù)雜樣本內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如多層薄膜、微流控芯片等。
清晰圖像與深度解析能力
借助 TruSight 圖像優(yōu)化算法，IXplore IX85 Spin 在大深度范圍內(nèi)依然能提供高質(zhì)量的三維圖像。Yokogawa 轉(zhuǎn)盤裝置獨特的針孔排列設(shè)計有效抑制背景干擾，提高圖像清晰度，尤其適用于多通道信號同步采集和拼接處理。
多通道同步成像與擴展性
IXplore IX85 Spin 支持多波長光源配置，激光模塊可從兩條擴展至六條（包括405 nm、445 nm、488 nm、514 nm、561 nm 和 640 nm），并兼容多傳感器協(xié)同工作，滿足高速、多參數(shù)信息同步采集的需求，適用于復(fù)雜系統(tǒng)的實時監(jiān)測。
作為 IXplore IX85 顯微鏡系統(tǒng)的升級版本，IXplore IX85 Spin 提供更廣視野、更快采集速度及更高圖像質(zhì)量，是先進材料研究、微納加工檢測以及工業(yè)分析中不可或缺的成像平臺。無論是微觀結(jié)構(gòu)演化、表面形貌追蹤，還是復(fù)合材料內(nèi)部特征識別，IXplore IX85 Spin 均能提供穩(wěn)定高效的解決方案。
全電動倒置顯微鏡：https://lifescience.evidentscientific.com.cn
產(chǎn)品連接：https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/microscopes/inverted/ixplore-ix85-spin/