強大的相控陣工具箱
OmniScan X3系列探傷儀是一款集成了先進全聚焦方式（TFM）和好用相控陣（PA）功能的全面無損檢測解決方案。這款便攜式設備專為提高檢測效率和準確性而設計，適用于各種復雜材料的缺陷識別。
核心特點與優勢：
高效性能：采用堅固耐用且輕巧的設計，支持64晶片相控陣探頭，并能實現128晶片孔徑的TFM檢測，適合較厚或衰減性較強的材料。
創新的TFM成像技術：提供高質量成像，增強對小缺陷的靈敏度及噪聲材料中的穿透力。聲學影響圖（AIM）工具幫助用戶提前確認TFM聲波覆蓋范圍，優化掃查計劃。
實時相位相干成像(PCI)：從MXU 5.10版本開始支持，增強了對難以檢測的小缺陷的識別能力。
遠程協作服務(X3 RCS)：允許用戶共享屏幕、控制設備并主持視頻會議，便于遠程協作。
快速校準：高速信號跟蹤使得多組校準可在幾分鐘內完成，顯著提升工作效率。
改進的相控陣技術：包括更高的脈沖重復頻率、單獨的TOFD菜單加速校準流程、800%高波幅范圍減少重新掃描需求等。
簡化的工作流程：通過內置軟件MXU提供簡化的菜單和直觀工具，涵蓋從設置到報告的所有步驟。
應用領域：
腐蝕監測：利用相控陣技術實現大面積覆蓋和出色的分辨率，簡化腐蝕檢測過程。
焊縫檢測：適用于各類焊接結構的缺陷檢測，包括薄至厚壁焊縫。
復合材料檢測：針對復合材料等衰減性強的材料，提供更好的信號分辨率。
型號選擇：
OmniScan X3 64：特別適合需要高分辨率成像的應用場景，如使用全部64晶片孔徑進行TFM檢測，以及處理具有挑戰性的材料。
軟件支持：
MXU軟件：用于PAUT、TOFD和TFM檢測和分析，提供簡化菜單和先進工具，支持整個檢測工作流程。
兼容性：與之前版本的OmniPC軟件和OmniScan MX2、SX和MX探傷儀設置文件完全兼容，確保數據遷移順暢。
借助其卓越的功能集合，OmniScan X3不僅提升了檢測效率，還增強了結果的準確性和可靠性，是現代無損檢測的理想選擇。

產品鏈接：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/phasedarray/