STO1400光耦測試儀
陜西天士立科技生產的STO1400光耦測試儀，可測試各類光耦參數，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數字光耦，線性光耦、高速光耦，等。測試參數包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導通壓降 VCE(sat)”“開關時間toff/ton”等。陜西天士立科技。
一、光耦測試儀·產品信息
產品型號：STO1400
產品名稱：光耦測試儀；
制造廠家：陜西天士立科技有限公司
通聯編號：Phone-029-8822-5591-Mr.Wang
主機尺寸：深305*寬280*高120(mm)
主機重量：＜5Kg
主機功耗：＜75W
環境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；
相對濕度：≯85%；
防護條件：無較大灰塵，腐蝕性氣體，導電粉塵等；
電網要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作時間：連續。
二、光耦測試儀·產品介紹
STO1400光耦測試儀是一款布局緊湊、功能全面、界面友好、操作簡潔的單機測試儀器。專為各類光耦參數測試而設計開發，可測試各類單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數字光耦，高速光耦，線性光耦等。測試參數包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降 VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導通壓降 VCE(sat)”“開關時間”......可測具體參數數值也可以進行篩選性測試，既合格/不合格(OK/NO)。
STO1400光耦測試儀產品前面板設有“顯示屏區域”“操作按鍵區域”“接口區域”。基于飛思卡爾 16 位單片機編程的操作程序包含測試程序編輯、程序調用、數據保存、功能類型等常規設置。10 檔位分檔設計，耐壓測試電壓 1400V/可擴展，測試正向壓降和輸出電流可達 1A/可擴展
三、光耦測試儀·應用場景
1、測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）
2、失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案）
3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
4、來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
5、量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）
6、替代進口（STO1400光耦測試儀可替代同級別進口產品）
四、光耦測試儀·產品特點
※ 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方便簡單.
※ 大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.
※ 全部可編程的DUT恒流源和電壓源.
※ 內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.
※ 高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1400V.
※ 重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題.
※ 軟件自校準功能
※ 自動模式:自動檢測有無DUT放于測試座中,有則自動處于重復測試狀態,無則處于重復檢測狀態.
※ 手動模式：剛開始未測試時屏幕白屏屬正常現象，當測試開關按下后才自動對測試座中的DUT進行檢測測試，長按開關不松開則處于重復測試狀態,松開開關則自動停止測試。
※ 基于大規模微處理器設備,當用戶選定了設置好的型號時,在手動測試時,按下測試開關,使測試機開始執行功能檢測,自動測試過程將在STO1400的測試座上檢測DUT短路,開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試.功能測試主要保護DUT不被因型號選錯而測壞元件，
※ DUT的功能測試通過過,LCD顯示出DUT的引腳排列(P_XXX),
※ 測試方式(手動/自動)并繼續進行循環測試,顯示測試結果是否合格,并有聲光提示.
※ 在測試時,能自動識別引腳功能,并自動轉換矩陣開關進行參數測試.測試后顯示對應引腳功能號
五、光耦測試儀·測試種類及參數
5.1、可測試的光耦類型
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分類方式
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具體分類
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光路徑
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外光路光耦（透過型和反射型）
內光路光耦
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輸出形式
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光敏器件輸出型光耦
NPN三極管輸出型光耦
達林頓三極管輸出型光耦
邏輯門電路輸出型光耦（門電路輸出型，施密特觸發輸出型，三態門電路輸出型等）
低導通輸出型光耦
光開關輸出型光耦
功率輸出型光耦（IGBT/MOSFET等輸出）。
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傳輸信號
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數字光耦（OC門輸出型，圖騰柱輸出型及三態門電路輸出型等）
線性光耦（可分為低漂移型，高線性型，寬帶型，單電源型，雙電源型等）。
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開關速度
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低速光耦（光敏三極管、光電池等輸出型）
高速光耦（光敏二極管帶信號處理電路或者光敏集成電路輸出型）
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不同通道
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單通道光耦
雙通道光耦
多通道光耦
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隔離特性
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普通隔離光耦
高壓隔離光耦
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工作電壓
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低電源電壓型光耦
高電源電壓型光耦
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封裝形式
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同軸型
雙列直插型
TO封裝型
扁平封裝型
貼片封裝型
光纖傳輸型
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5.2、引腳定義
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極
5.3、測試參數
- 正向電壓 VF
- 正向電流 IF
- 擊穿電壓 VR
- 反向電流 IR
- 輸出低電平電源電流 ICCL
- 輸出高電平電源電流 ICCH
- 使能端高電平電壓 VEH
- 使能端低電平電壓 VEL
- 使能端高電平流 IEH
- 使能端低電平流 IEL
- 輸出端高電平電壓 VOH
- 輸出端低電平電壓 VOL
- 輸出端高電平電流 IOH
- 輸出端低電平電流流 IOL
- 電流傳輸比 CTR
- 輸出上升時間 Tr
- 輸出下降時間 Tf
- 上升傳輸延遲時間 tpLH
- 下降傳輸延遲時間 tpHL
5.4、參數定義
- VF：IF: 光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.
- Vce:Bv:光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.
- Vce:Ir: 光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.
- CTR:IF:光耦傳輸比時輸入端的測試電流。
- CTR:Vce:光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。
- Vsat:IF:光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。
- Vsat:Ic:光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。
低配版·STO1400光耦測試儀
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耐壓
BVCEO/BVECO
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測試范圍0-1400V
分辨率1V
精度<2%+2RD
測試條件0-2mA
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輸入正向壓降
VF
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測試范圍0-2V
分辨率2mV
精度<1%+2RD
測試條件0-1000mA
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輸出端反向漏電流
ICEO
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測試范圍0-2000uA
分辨率1UA
精度<5% +5RD
測試條件BVCE=25V
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反向漏電流
IR
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測試范圍0-2000uA
分辨率1UA
精度<5% +5RD
測試條件VR=0-20V
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電流傳輸比
CTR
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測試范圍0-9999
分辨率1%
精度1% +5RD
測試條件BVCE：0-20V
測試條件IF：0-100mA
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輸出導通壓降
VCE(sat)
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測試范圍0-2.000V
分辨率2mV
精度1% +5RD
測試條件IC：0-1.000A
測試條件IF：0-1.000A
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高配版·STO1400光耦測試儀
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序號
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參數名稱
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符號
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測試范圍
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分辨率和精度要求
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1
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正向電壓
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VF
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0～20V
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量程±100V、±1000V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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2
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正向電流
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IF
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0～60mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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3
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擊穿電壓
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VR
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-20V～0
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量程±1000V的分辨率和精度
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4
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反向電流
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IR
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-10mA～0
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量程±40mA ±4mA、±400μA、±40μA 、±4μA的分辨率和精度
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5
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輸出低電平電源電流
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ICCL
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0～5A
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量程 ±4，±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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6
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輸出高電平電源電流
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ICCH
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0～5A
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量程±4A,±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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7
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使能端高電平電壓
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VEH
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0～20V
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量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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8
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使能端低電平電壓
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VEL
|
0～20V
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量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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9
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使能端高電平流
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IEH
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0～10mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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10
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使能端低電平流
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IEL
|
0～10mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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陜西天士立科技有限公司研發生產的STO1400光耦測試儀，可測試各類光耦，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數字光耦，高速光耦，線性光耦等。測試參數包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導通壓降 VCE(sat)”“開關時間toff/ton”等陜西天士立科技有限公司。
