ChipMaster手持式模擬集成電路測(cè)試儀資料下載

循環(huán)測(cè)試-判定間歇性故障元器件更準(zhǔn)確

    采用無(wú)條件或有條件循環(huán)測(cè)試模式,能夠找到間歇性故障點(diǎn)和由溫度引起的故障,并顯示單個(gè)管腳的診斷信息.

英國(guó)ABI-ChipMaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀簡(jiǎn)介:

    可測(cè)元器件包含TTL系列,CMOS,存儲(chǔ)器,大規(guī)模集成電路,接口芯片以及其它多達(dá)40管腳的器件,不斷擴(kuò)充的多達(dá)上千種元器件庫(kù),元器件庫(kù)可以自行編程擴(kuò)充升級(jí).

英國(guó)ABI-ChipMaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀特點(diǎn)：

·操作簡(jiǎn)單方便
·內(nèi)置元器件庫(kù)可擴(kuò)充升級(jí)
·未知IC型號(hào)查找
·顯示單個(gè)管腳故障診斷信息
·元件代換查詢
·可選SOIC和PLCC適配座
·可選編程軟件與PC實(shí)時(shí)通訊測(cè)試
·電池與直流供電
·可以選擇不同封裝的測(cè)試座

英國(guó)ABI-ChipMaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀功能:

Single-對(duì)測(cè)試座上的IC進(jìn)行單次測(cè)試.
Loop-無(wú)論結(jié)果如何,重復(fù)進(jìn)行測(cè)試
P Loop-若測(cè)試結(jié)果為PASS,重復(fù)進(jìn)行測(cè)試
F Loop-若測(cè)試結(jié)果為FAIL,重復(fù)進(jìn)行測(cè)試
Search-識(shí)別測(cè)試座上IC的型號(hào)
Diags-進(jìn)行自我診斷測(cè)試
CmLink-進(jìn)入CompactLink 軟件通訊模式
Sw Off-將本儀器關(guān)機(jī)

專業(yè)的CompactLink編程通訊軟件(選配件)

可以擴(kuò)充元件庫(kù)的編程軟件;
與PC實(shí)時(shí)通訊測(cè)試軟件;
允許用戶根據(jù)軟件增加新元器件庫(kù),并產(chǎn)生新的功能測(cè)試,可以滿足特殊的應(yīng)用;
軟件采用PremierLink IC編程(PLIP);
高水平的測(cè)試編程描述語(yǔ)言;
最佳的模擬和數(shù)字測(cè)試程序;
可通過(guò)RS-232或者USB接口連接電腦;
本軟件適合于ChipMaster和LinearMaster;

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