英國ABI-6400電路板故障檢測儀產(chǎn)品突出特征：
1)產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2)64路數(shù)字集成電路測試，64路V-I曲線測試，1路v-i探棒測試
3)同一器件可以在同一時間完成多種測試：功能測試，V-I曲線測試，溫度拐點系數(shù)測試，連接狀態(tài)測試，管管腳電壓測試
4)測試庫達上萬種元器件，可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫，可以快速擴充測試庫
5)整板測試非常簡單，通過圖形化的測試庫編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵型號及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。
6)短路追蹤可以快速找到短路點
7)V-I曲線溫漂拐點系數(shù)測定，方便找出不穩(wěn)定器件
8)V-I曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v 掃描電壓范圍可以2.5V步進調(diào)整，可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號，掃描信號可達幾十種。
8)邏輯電平閾值自定義。可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件
9)邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤結(jié)果.
10)配有離線測試盒，快速測試批量元器件。離線測試和在線測試功能完全一至。
12)系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進行通道擴充，直至256通道
電路板故障檢測儀產(chǎn)品介紹及特點：
1)數(shù)字測試通道:64路(可擴充到256通道).
2)模擬測試通道64路(可擴充到256通道).
3)隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路總線競爭隔離信號。
4)快速掌握被測元件的多種信息,針對一個器件同時完成多種測試:數(shù)字ic功能測試,V-I曲線測試,曲線拐點溫度變化系數(shù),各個管腳電壓值測量,管腳連接狀態(tài)測量顯示,
5)能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進行在線/離線功能測試；上萬種測試元件庫，元件種類:TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.
6)邏輯電平閾值自定義。
7)邏輯電平閾值自動掃描,以確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤結(jié)果.
8)輸入輸出邏輯時序圖形顯示、具體時序電壓值顯示,方便掌握具體有用測試信息。
9)IC型號識別：針對標(biāo)識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試。
10)讀寫存儲器功能測試:可針對記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進行讀取,對比及將資料存入電腦中,可進行在線或離線測試.可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結(jié)果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼
11)V-I曲線模擬特征分析測試:V-I曲線測試通過比較好和壞電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測故障.可把故障定位到電路結(jié)點.V-I曲線試不涉及器件功能是逐管腳進行的,不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進行測試,V-I曲線測試無需給電路板加電,測試安全。
12)5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流保護功能.由系統(tǒng)自動控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時間.方便各種類型電路板的測試。
13)V-I曲線測試功能:可針對數(shù)位元件直接進行測試,具有64組測量通道并可以擴充到256組通道,測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.
14)圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫。
15)電路板整板測試，通過圖像化測試庫編輯器，測試者可以根據(jù)電路板的原理圖，將電路板的輸入輸出的時序進行圖形化的測試庫編譯，自定義輸入通道的測試激勵信號，根據(jù)電路板的原理推算出輸出通道的響應(yīng)時序信號，并將測試庫保存在測試庫中，以備日后做整板檢測使用。
16)短路電阻測量功能：三段低電阻測量范圍，可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小，并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點。
17)中英文測試軟件，體積小，usb口連接電腦
18)V-I曲線測試電壓-10v~+10v內(nèi)可以調(diào)整，正負(fù)電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保證測試的安全性。
19)該設(shè)備可以64路通道為標(biāo)準(zhǔn)進行擴充，直至256路，保證了整板測試的最大路數(shù)為256路。
20)V-I曲線測試,可以觀測曲線拐點溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
21)數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。
22)V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試
23)LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進行功能及狀態(tài)分析測試。
技術(shù)參數(shù)：
http://www.17.net.cn/main/listmulu1-3.html
| 數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格 |
|
| 測試通道數(shù): |
64通道（可擴展到256通道） |
| 總線隔離信號信道數(shù): |
4通道or 8通道 |
| 實時比對功能: |
需有二個64通道, 或128通道 |
| 輸出驅(qū)動電壓: |
TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
| 輸出驅(qū)動電流: |
電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
| |
一般H-L 80mA @ 0.6V |
| |
一般 L-H 200mA @ 2V |
| |
Max. 400mA |
| 驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換比: |
>100V/µs |
| 電壓范圍: |
+/-10V |
| 輸入阻抗: |
10k |
| 邏輯形態(tài): |
三態(tài)或開集極開路 (內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
| 驅(qū)動邏輯形態(tài): |
Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
| 過電壓保護范圍: |
<0.5V, >5.5V |
| 最長測試時間: |
根據(jù)被測元器件而定 |
| 測試方式: |
在線及離線測試 (需外接離線測試盒) |
| 電源供給規(guī)格參數(shù) |
|
| 自動供給電源輸出: |
1 x 5V @ 5A 固定式 |
| |
( 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道) |
| 過電壓保護: |
7V |
| 過電流保護: |
7A |
| 測試模式 |
|
| 單次(Single): |
單次測試 |
| 循環(huán)(Loop): |
反復(fù)測試, 或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
| 自動掃描測試: |
可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) |
|
| 最小調(diào)整解析: |
100mV |
| 低信號位準(zhǔn)Low levels: |
TTL 0.1V to 1.1V |
| |
CMOS 0.1V to 1.5V |
| 轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn)Switching levels: |
TTL 1.0V to 2.3V |
| |
CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高信號位準(zhǔn)High levels: |
TTL 1.9V to 4.9V |
| |
CMOS 1.9V to 4.9V |
| 掃描低邏輯范圍Swept low levels: |
TTL 0.1V to 1.1V |
| |
CMOS 0.1V to 1.5V |
| 掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels: |
TTL 1.2V |
| |
CMOS 2.5V |
| 掃描高邏輯范圍Swept high levels: |
TTL 1.9V to 4.9V |
| |
CMOS 1.9V to 4.9V |
| 測試功能及參數(shù) |
|
| 集成電路功能測試 |
根據(jù)測試庫的功能進行測試，根據(jù)元件的原理和真值表進行測試 |
| 元器件連接特性測試 |
|
| |
短路狀態(tài)偵測 Short circuit detection |
| |
懸浮（浮接）狀態(tài)偵測 Floating input detection |
| |
開路狀態(tài)偵測 Open circuit detection |
| |
連接狀態(tài)偵測 Linked pin detection |
| 電壓量測Voltage: |
最小解析 10mV 范圍 +/-10V |
| |
具邏輯狀態(tài)偵測 Logic state detection |
| VI曲線測試: |
測試通道數(shù)64 – 256（擴展） |
|
|
電壓設(shè)定范圍 -10V to +10V (可自行設(shè)定)，可以設(shè)置非對稱電壓掃描 |
|
|
最大測試電流 1mA |
| 曲線拐點系數(shù): |
管腳的v-i曲線圖中的拐點圖形，隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù)，對于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
|
配件 |
|
|
標(biāo)準(zhǔn)配件 |
離線測試測試盒 |
|
1 x 64 way test cable (64通道測試線) |
|
1 x 64 way split test cable (2X32通道測試線) |
|
1 x V-I probe assembly (V-I曲線測試探棒) |
|
1 x BDO cable (隔離通道信號測試線) |
|
1 x Short locator cable (短路電阻測試探棒) |
|
1 x Ground clip (接地信號夾) |
|
1 x PSU lead set (電源輸出線) |
| 通訊及機箱 |
|
| 內(nèi)置通訊接口 |
PCI interface (通訊接口) |
| 外置通訊接口及機箱 |
MultiLink case (標(biāo)配) 為 USB.通訊端口 |
| |
External case (選購) 可升級到 5個安裝槽的SYSTEM 8 外接箱 (USB.通訊端口). |
| 組件數(shù)據(jù)庫 |
|
| 可測試元器件種類: |
TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定義 |
| 可測試元器件封裝類型: |
DIL, SOIC, PLCC, QFP，用戶可以自己配置測試夾和轉(zhuǎn)接座 |
