各種玻璃邊形狀如R表面和C表面都可獲得大光量，因而盒內玻璃電路板的精確繪圖成為可能。除了清晰的玻璃外，有黑色或黃色涂層的玻璃也可檢測。
隨著玻璃電路板的大型化，其彎曲量也因此變大，但至少有一種可應用于左右彎曲±8°(FD-L45為±6°)的電路板。
檢測距離為3～17mm(FD-L45為10～ 2 5 m m ) ， 且由于定位誤差在0.2mm以下，因此可進行更高精度的檢測。
以比以往更小的尺寸達到了同類中最長的檢測距離，用于座式確認十分理想，即使對彎曲的玻璃電路板也可提供穩定的檢測性能。
以W7.2H7.5D2mm的極小尺寸收錄于限定反射光學系統中。此外，在無法確保安裝空間的場所、裝置中也可設置，從而大大擴展了其用途。
