產品的品質保證作為生產過程中的重要環節越來越受到廠商的重視。根據machinist.in的一份最新報告，“Frost ＆ Sullivan公司預測，在未來五年，測試與測量設備市場的年均復合增長率（CAGR）將達到30%。”這表明，在市場需求的推動下，廠商對于測試與測量設備的投入將不斷增加。

　　由于被測試設備的復雜性越來越高，基于開放式架構的自動測試系統變得越來越重要，該系統通過為工程師提供更多的靈活性與兼容性，滿足不斷變化的市場需求，縮短了產品的開發周期。區別于傳統的計算平臺，測試平臺需要針對不同的測試對象不斷調整，以滿足測試設備的需求。

研華產品系列

　　以半導體自動測試設備（ATE）為例，不論在晶圓和封裝階段，利用多種儀器或數據采集卡測試內存、數字量、混合信號及片上系統（SOC）組件的各種參數。在消費者、計算和通信市場需求的推動下，這些測試系統在不斷發展。在半導體行業若想不斷創新突破，ATE測試設備必須提供比以往更多的功能和更快的速度。

　　此外，一旦出現軟件支持問題或接口兼容受限，測試測量設備會很快被淘汰，當采集數據由一個模塊向另一個模塊轉移時，成本、軟件支持受限和編程等問題便至關重要。

　　鑒于以上因素，測試程序是否采用領先、可靠的系統和技術對于使用者至關重要。26年來，研華開發了高品質的模擬量與數字量生產測試解決方案。今天，研華結合開放式架構，采用可靠的硬件設計和堅固的平臺，為廠商和測試者提供了最先進的工業自動化產品和服務。