探針臺(tái)配件/直流探針

|美國(guó)GGB ST系列硬針

類(lèi)別:ST系列

尺寸:鎢材質(zhì)

特點(diǎn):ST系列硬針是0.020 inch (0.51mm)直徑鉤材質(zhì)針桿經(jīng)過(guò)精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑,長(zhǎng)度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線(xiàn)路點(diǎn)測(cè)。ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯 片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍銀，如果選擇鍍銀則型號(hào)后面增加“N P”

參數(shù):針尖直徑從lum到200um可選

型號(hào):ST-20-0.5/1.0/2.0/5.0/10.0/25.0/50.0/100.0

|美國(guó)GGB T-4系列軟針

類(lèi)別:T-4系列

尺寸:鑄材質(zhì)

特點(diǎn):T-4系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線(xiàn)路，電極，或者FIB(聚焦離子束)制作的mini電極。該系列軟針的結(jié)構(gòu)采 用不同直徑鶴材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。其中T-4-10和T-4-22兩款是客戶(hù)反饋比較有優(yōu)勢(shì)的型號(hào)，因?yàn)槠溽橅?/span> 直徑較細(xì)，具有良好的彎曲彈性,能夠極大的減少對(duì)芯片電極的損害，在部分震動(dòng)環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸。 T-4軟針不建議在敏感節(jié)點(diǎn)使用，因?yàn)闀?huì)產(chǎn)生電容負(fù)載的問(wèn)題，在此環(huán)境下，建議使用高阻抗Picoprobes系列。

參數(shù):針尖直徑從0.2um到10um可選

型號(hào):T-4-5/10/22/35/60/125.0

|國(guó)產(chǎn)鈹銅探針

類(lèi)別:BCP系列

尺寸:鈹銅材質(zhì)或者鈹銅鍍金

特點(diǎn)：100%純國(guó)產(chǎn)鈹銅探針，相比于鶴探針更加柔軟，配合探針臺(tái)使用，不容易扎破樣品，能夠極大的減少對(duì)芯片電極的損 害，在部分震動(dòng)環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸，比較適合于容易扎破扎穿那種樣品的測(cè)試。

參數(shù):針尖直徑從lum到200um可選

型號(hào):BCP050-3800-0.5R/1.0R/2.0R/5.0R/10.0R/25.0R/50.0R/100.0R

|國(guó)產(chǎn)鎢探針

類(lèi)別:WG系列

尺寸:鎢材質(zhì)或者鎢鍍金

特點(diǎn):WG系列硬針是0.020 inch (0.51mm)直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過(guò)精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑,長(zhǎng)度為 1.5inch(38.1mm)的探比這種探針應(yīng)用于絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線(xiàn)路點(diǎn)測(cè)。WG系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可選表面鍍金，表面鍍金時(shí)接觸電阻更小，可以減小接觸電阻對(duì)測(cè)試的影響，也可以防止氧化。

參數(shù):針尖直徑從lum到200um

可選型號(hào):WG-0.5R/1.0R/2.0R/5.0R/10.0R/25.0R/50.0R/100.0R