NIWeek - NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學家應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的平臺系統(tǒng)供應商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產品將射頻集成電路、電源管理IC、微機電（MEMS）系統(tǒng)設備以及混合信號IC的制造商從傳統(tǒng)半導體自動化測試設備(ATE)的封閉式架構中解放出來。

    傳統(tǒng)ATE的測試覆蓋率通常無法滿足最新半導體設備的要求。通過將半導體行業(yè)成熟的數(shù)字測試模式引入到基于PXI開放平臺的半導體測試系統(tǒng)（STS）中,并使用功能強大且人性化的編輯器和調試器進行優(yōu)化，用戶可以利用先進的PXI儀器來降低射頻和模擬IC的測試成本并提高吞吐量。

    “PXI數(shù)字模式儀器為半導體工程師提供所有高端數(shù)字測試平臺才具備的數(shù)字性能，因此它的問世無疑是為STS錦上添花，” NI半導體測試副總裁Ron Wolfe表示， “如果生產車間的PXI具備這個功能，他們就可以在滿足先進器件的成本和測試要求的同時，輕松將其擴展到其他產品的測試上。”

    NI PXIe-6570數(shù)字模式儀器以非常實惠的價格為無線設備供應鏈和物聯(lián)網設備常用IC提供了所需的測試功能。它具有100 MVector/秒的圖形向量執(zhí)行速率，在單個子系統(tǒng)中具有獨立的源、捕獲引擎、電壓/電流參數(shù)函數(shù)以及高達256個同步數(shù)字引腳。 用戶可充分利用PXI的開放性和STS，根據需求任意地增加或減少所需的器件，以滿足測試配置所需的器件引腳和測試點數(shù)。

    全新的數(shù)字模式編輯器軟件具有以下功能：器件引腳映射圖、規(guī)范和圖形向量編輯環(huán)境，有助于更快速地制定測試計劃；各種內置工具，如多站點和多儀器并行收發(fā)可實現(xiàn)產品從開發(fā)到投產的無縫對接；shmoo圖和交互式引腳視圖等工具，可更高效地調試和優(yōu)化測試。

    使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和數(shù)字模式編輯器軟件進行特性分析和產品測試，可減少數(shù)據關聯(lián)所需的工作，從而縮短產品上市時間。 STS配置內外的PXI硬件占地空間小，可節(jié)省廠房空間，而且可使用特性分析實驗室臺上的標準墻插式電源供電。

    “PXI已被證明是一個出色的軟硬件集成解決方案，可同時適用于產線車間和特性分析實驗室，”Wolfe補充道，“NI基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和數(shù)字圖形向量編輯器是重要的創(chuàng)新產品，可幫助器件制造商和測試室降低測試成本以及優(yōu)化測試程序開發(fā)。”

    許多半導體公司正基于NI平臺和生態(tài)系統(tǒng)來構建智能化的測試系統(tǒng)。 不僅僅是生產適用的STS系列、1 GHz帶寬矢量信號收發(fā)儀，fA級源測量單元以及TestStand半導體模塊, 這些系統(tǒng)受益于覆蓋了直流到毫米波的600多款PXI產品。 它們采用PCI Express第三代總線接口，具有高吞吐量數(shù)據傳輸能力，同時具有子納秒級同步以及集成的定時和觸發(fā)。 用戶可以利用LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產力，以及一個由合作伙伴、附加IP、應用工程師團隊組成的活躍生態(tài)系統(tǒng)，大幅降低測試成本，縮短上市時間，開發(fā)面向未來的測試設備，滿足未來RF和混合信號測試的各種挑戰(zhàn)。

    如需了解NI的更多半導體測試產品，請訪問www.ni.com/semiconductor

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