NI今天宣布了一種快速收斂的交叉相關性測量技術，以無線局域網(WLAN)信號提供一流的誤差矢量大小(EVM)性能。這項新技術使用專利技術，使工程師能夠提高關鍵EVM測量的準確性和測量速度。這項新技術允許WLAN設備制造商保證規(guī)格合規(guī)性和最先進的性能，同時加快上市時間。

　　WiFi7或IEEE 802.11be標準的演變通過更廣泛的信道帶寬、更高的頻譜效率和4096-QAM等高階調制方案，為消費者提供了數據吞吐量的顯著改善。WiFi7還為WLAN設備制造商引入了新的技術要求，并要求WLAN系統(tǒng)和組件實現(xiàn)更嚴格的射頻性能要求。

　　新WiFi7設計最具挑戰(zhàn)性的射頻性能測量之一是寬射頻帶寬的EVM測量。為了應對這一挑戰(zhàn)，NI引入了一種多儀器測量技術，該技術利用了兩個NI矢量信號收發(fā)器(VST)。該方法利用交叉相關信號處理來提高測量精度并實現(xiàn)WiFi7性能規(guī)范。該新技術實現(xiàn)了專利技術，允許工程師根據場景將執(zhí)行極高動態(tài)范圍、寬帶寬測量的時間減少高達100倍的時間，具體取決于具體情況。結果減少了產品表征時間，使測試工程師能夠加快上市時間。本文描述的EVM測量技術受美國專利號10,841,019和美國專利出版物編號：20220065972的保護。

　　NI全球資深產品總監(jiān)章晨說：“隨著Wi-Fi7技術推動不斷提高的射頻性能水平，NI繼續(xù)創(chuàng)新新的測量技術，使我們的客戶能夠達到最先進的性能，同時提高測試時間和制造產量。”“NI新的專利快速交叉相關測量技術使我們的客戶能夠保證行業(yè)領先的射頻性能——并在加快上市時間的同時做到這一點。”

　　除了提高測量性能外，以軟件為中心的PXI自動測試系統(tǒng)還提供了行業(yè)領先的靈活性和可擴展性。通過將NI從DC到mmWave的完整儀表平臺標準化，工程師可以減少整體表征時間，同時增加測試覆蓋率。這允許NI客戶提供更高的產品性能，同時加快產品開發(fā)工作流程。

　　如果您想親身體驗NI的交叉Correlation技術，NI將于6月19日至24日在丹佛舉行的IEEE微波研討會，展位為5020。

　　本文描述的EVM測量技術受美國專利號10,841,019號“調制質量測量交叉校正測量”和美國專利出版物20220065972的保護，該專利號為“基于交叉校正質量測量的快速收斂方法”。