2016年3月15日- NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日亮相2016 Semicon中國半導體展，并宣布推出TestStand半導體模塊，為測試系統(tǒng)工程師提供了所需的軟件工具來快速開發(fā)、部署和維護半導體測試系統(tǒng)。

    借助TestStand半導體模塊，工程師可以采用與在生產(chǎn)車間部署半導體測試系統(tǒng)(STS) 一樣的編程方法在實驗室進行特性分析，從而減少了關(guān)聯(lián)測量數(shù)據(jù)所需的時間。 TestStand半導體模塊基于 TestStand這一已經(jīng)被全球超過1萬名開發(fā)工程師所采用的業(yè)界標準測試管理軟件，可幫助用戶使用PXI和TestStand的功能自行搭建半導體測試所需的機架式系統(tǒng)，而不需要采用STS傳統(tǒng)的“測試頭”架構(gòu)。

   “NI致力于通過開放式軟件和模塊化硬件不斷降低半導體測試的成本，” NI半導體測試副總裁Ron Wolfe表示， “我們在2014年推出STS，使得業(yè)界標準的開放式PXI平臺具有了專門針對半導體測試的功能。今天，我們專門針對半導體測試的特性分析以及生產(chǎn)等各個階段的需求開發(fā)了TestStand半導體模塊，提高了測試開發(fā)的效率。”

    TestStand半導體模塊提供了專門針對半導體測試的功能，可降低開發(fā)成本和提高生產(chǎn)吞吐量。 功能包括：

•  動態(tài)多站點編程，可將代碼復用于多個站點上（數(shù)量可調(diào)）

•  直觀的引腳圖編輯器，包括PXI和第三方儀器

•  標準測試數(shù)據(jù)格式(STDF)結(jié)果處理器，使用業(yè)界標準的格式記錄參數(shù)測試結(jié)果

    TestStand半導體模塊進一步補充了NI日益壯大的半導體測試產(chǎn)品家族，半導體測試產(chǎn)品已經(jīng)包含了STS、數(shù)百個高性能PXI儀器以及TestStand和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計軟件等各種功能強大的軟件。 NI智能化的平臺方法正在幫助半導體制造商降低RF和混合信號的測試成本，提高測試的吞吐量。

    除了以上新品， NI 在2016 Semicon還展示了包括基于NI平臺的藍牙自動化測試系統(tǒng)、NI半導體測試系統(tǒng)、第三代PXI控制器/機箱和最新電源模塊、高速串行協(xié)議測試、ADC自動化測試系統(tǒng)等演示系統(tǒng)，歡迎大家光臨美國國家儀器位于上海新國際博覽中心N5的5443號展位。

    如需了解領(lǐng)先的公司如何借助TestStand半導體模塊降低測試成本，請訪問 ni.com/teststand/semiconductor。

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