2013 年 9月 —— 美國國家儀器有限公司（National Instruments, 簡稱NI）近日發(fā)布第二款矢量信號收發(fā)儀NI PXIe-5645R，它建立在軟件的設計架構上，工程師因而可以使用LabVIEW進行修改，以滿足特定的需求。  新的矢量信號收發(fā)儀增加了一個高性能的差分或單端I/Q接口，在一臺儀器上就能測試設備的射頻和基帶信號，最新的PC與FPGA技術能夠縮短測試時間。

   NI射頻研發(fā)副總裁Jin Bains表示：“全新PXIe-5645R矢量信號收發(fā)儀的軟件設計架構，為用戶提供了前所未有的靈活應用，如RF收發(fā)儀基帶測試。”

產(chǎn)品特性

· 65 MHz至6 GHz的頻率范圍，80 MHz瞬時帶寬和24通道的高速數(shù)字I/Q
·基帶I/Q接口與16位120 MS/s的采樣數(shù)據(jù)，帶有高達80 MHz的復雜帶寬，可選擇差分或單端配置
·開放、可編程的FPGA，工程師可自行添加用戶自定義的功能
· 用戶可以訪問www.ni.com/vst/zhs/，下載預建和可修改的IP，實現(xiàn)最為常見的應用。

更多資源

· 產(chǎn)品、視頻、技術白皮書： http://www.ni.com/vst/zhs
· 案例分析: http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-15069

關于NI

   從1976年開始，美國國家儀器(www.ni.com)就為工程師和科學家提供各種工具來加速生產(chǎn)、創(chuàng)新和探索。NI的圖形化系統(tǒng)設計方法為工程界提供了一個將軟硬件結合在一起的平臺，有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)過程。公司的長期愿景和通過技術提高社會發(fā)展水平的理念為客戶、員工、供應商和股東的成功提供支持。

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