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牛津儀器在廬山舉行了2008年度的用戶研討會

http://www.kblhh.cn 2008-08-04 11:13 來源：儀器儀表信息網(wǎng)

2008年7月21日到25日，牛津儀器納米分析儀器部在廬山舉行了2008年度的用戶研討會。此次會議邀請到來自全國各地超過100位用戶，專家，學者以及牛津的新老朋友。

牛津儀器亞太區(qū)銷售經(jīng)理Jonathan Bryon 和區(qū)域售后主管David Craig分別致了開幕詞，牛津儀器中國區(qū)首席代表張鵬對牛津儀器集團作了全貌介紹，牛津儀器納米分析儀器部的銷售經(jīng)理馮駿和售后服務經(jīng)理陸先慧為大家介紹了2008年分析儀器部各方面的進展和狀況。

會議還邀請到了很多專家學者一起分享經(jīng)驗，楊銀祥教授：硅漂移探測器發(fā)展歷史及其最新進展，趙文霞老師：能譜儀在材料科學中的應用實例，牛津儀器焦匯勝：薄膜材料成份和厚度的能譜分析，中科院硅酸鹽所李香庭：EDS定量結果解讀及誤差分析，標樂公司李明：EBSD樣品制備技術，青島科技大學張乾：納米銅粒子在乙炔聚合過程中的形變，核工業(yè)理化分析寇益強：超高強鋁合金模鍛件開裂原因分析，株洲鉆石刀具公司高躍紅：INCA軟件在梯度硬質合金涂層切削刀具中的應用，崇義章源鎢制品楊邁莉：梯度硬質合金刀片的掃描電鏡觀察等。

廬山用戶研討會圓滿的結束，各位同仁們，思想滾滾地渡過了愉快的一周，誠邀各位用戶明年繼續(xù)參加我們的會議！再續(xù)友誼！

牛津儀器在廬山舉行了2008年度的用戶研討會

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