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全新NI PXI射頻開關為規(guī)模化測試系統(tǒng)延壽提速

http://www.kblhh.cn 2012-08-14 10:43 來源：美國國家儀器（NI）有限公司

新聞要點

· NI PXI/PXIe-2543固態(tài)開關模塊能夠以更加快速的開關以及無限的機械壽命周期，對高達6.6 GHz的射頻信號進行路由。

· 對于許多規(guī)模化的生產(chǎn)測試應用，包括半導體和移動終端測試，新的射頻開關不但增加了測試吞吐量且保證了長期的測量可重復性。

· 開關模塊進一步擴大了NI PXI模塊化儀器的板卡家族，幫助射頻工程師面對最新的挑戰(zhàn)。

新聞發(fā)布

－ 2012年8月－美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）近日發(fā)布新的NI PXI/PXIe-2543固態(tài)射頻多路復用器，為工程師提供了一個長期高效的解決方案來對高達6.6GHz的射頻信號的路由進行優(yōu)化。相較傳統(tǒng)的機電開關解決方案，NI PXI/PXIe-2543的固態(tài)構架能夠實現(xiàn)更加快速的開關以及多次重復測量。

感言：

“新的NI PXI/PXIe-2543固態(tài)開關是基于行業(yè)領先的NI PXI平臺的成功經(jīng)驗構建而成，其固態(tài)架構為射頻應用提供了高速度和可靠性。”美國國家儀器有限公司測試市場總監(jiān)Charles Schroeder如是說道，“使用這個開關，自動化測試領域的工程師可以整合并同步許多PXI儀器，包括射頻發(fā)生器和分析儀，從而最大化測試系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比并能夠進一步提高精確度和吞吐量。”

產(chǎn)品特性

針對于高密度射頻開關的6.6GHz雙4x1多路復用器，適用于多站測試

采用固態(tài)架構，延長了開關的使用壽命

所有通道都使用了50 Ohm終端，提高射頻性能

整合PXI觸發(fā)以進行快速可重復的測量

訪問相關資源，了解更多關于NI PXI/PXIe-2543以及其他NI開關,請訪問http://www.ni.com/rf/zhs/

關于NI

自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI(www.ni.com）一直致力于為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。NI的圖形化系統(tǒng)設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術來改善社會的發(fā)展，確保客戶、員工、供應商及股東獲得成功。

全新NI PXI射頻開關為規(guī)模化測試系統(tǒng)延壽提速

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