新聞要點

　　該趨勢展望報告探討了影響當前和未來的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構、計算、軟件和I/O。

　　經過多年的自動化測試，NI從其商業(yè)關系、內部專業(yè)知識和第三方研究中吸取經驗，并提出了行業(yè)內最新、最為全面的見解。

　　報告中著重介紹了新興的移動設備如何改變行業(yè)架構，公司機構如何通過建立測試組織來奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢。

　　2012年5月－美國國家儀器公司（NationalInstruments,簡稱NI）近日發(fā)布《2012年自動化測試趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術和方法的研究發(fā)現。該趨勢報告詳細介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢，包括消費電子產品、汽車、半導體，航空航天與國防、醫(yī)療設備以及通訊。工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測試組織的最新策略和最佳方式。

　　2012年趨勢展望報告由5個類別組成：商業(yè)戰(zhàn)略、架構、計算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢：

　　測試組織的優(yōu)化:各個組織將測試工程視為戰(zhàn)略資產，以在競爭中獲得優(yōu)勢。

　　設計流程中的測量與仿真：將復雜模型與真實測量結合，提高產品質量，縮短開發(fā)時間。

　　PCIExpress外部接口:高速、低延遲PC內部總線擁有新的系統(tǒng)拓撲結構，并增強了外部接口功能。

　　移動設備的迅速普及:“智能手機和平板電腦的普及”正改變著測試系統(tǒng)控制和監(jiān)測的方式。

　　便攜的測量算法：全新工具可實現一次開發(fā)測量IP，即可部署至多個不同的處理單元。

　　《2012年自動化測試趨勢展望》的內容源于學術界和工業(yè)界的研究、用戶論壇與調查、商業(yè)智能化和用戶顧問委員會的反饋意見。該報告以數據為基礎，詳細介紹了下一代技術趨勢，以此應對測試測量領域的商業(yè)和技術挑戰(zhàn)。

　　《自動化測試趨勢展望》由NI測試行業(yè)領導委員會編寫，NI創(chuàng)立該委員會，旨在促進全球不同行業(yè)內數千家客戶分享反饋各自的最佳測試測量方法。NI測試行業(yè)領導委員會以促進測試行業(yè)領導人之間的交流為目標，鼓勵他們提出商業(yè)和技術的獨到見解。領導委員會的活動內容包括領導人會議、同行互通網絡和技術交流。

　　請訪問ni.com/ato/zhs，詳細閱讀2012年《自動化測試趨勢展望》。

　　關于NI

　　自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI(www.ni.com)一直致力于為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。NI的圖形化系統(tǒng)設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術來改善社會的發(fā)展，確保客戶、員工、供應商及股東獲得成功。