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基恩士發布形狀測量激光顯微系統 VK-X100/X200 系列
——集顯微鏡•SEM•粗糙度儀的功能于一身
http://www.kblhh.cn 2012-03-28 10:28 來源：互聯網
3月27日，工業自動化領域，銷售傳感器、測量儀器、顯微系統以及邏輯控制系統的供應商，日本知名企業基恩士在北京召開了媒體見面會。會上指出將加強在中國市場「形狀測量激光顯微系統VK-X100/X200 系列」的銷售。VK-X100/X200 系列1臺機器便可以實現無與倫比的高分辨率大范圍形狀測量。
「形狀測量激光顯微系統VK-X100/X200 系列」的特點如下；
高分辨率，大景深觀察
(1) 高分辨率， 最大放大24000 倍
(2) 完全聚焦的清晰圖像
(3) 符合溯源性要求
仿佛彩色 SEM
(1) 16 bit 激光彩色觀察
(2) 放置并且測量，您可以在幾秒鐘內進行分析
(3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量。可拆卸測量頭單元可以與其他設備整合并支持遠程操作。
無損輪廓和粗糙度測量
(1) 非接觸式設計，可用于測量軟質的工件
(2) 方便定位測量區域
(3) 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小
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