OC Sharp屬于短距離激光測距（也叫位移傳感器）產品，其測量基于“光譜分析”原理，是和原OD系列采用的“三角測量法”原理完全不同的最新技術。SICK提供“光譜共焦”和“光譜干涉”2種測量原理的測量頭，精度可以達到納米（10-9米）級（即分子水平），是目前全球最高精度的非接觸式測量傳感器之一。全新“光譜分析”技術保證可以適應任何顏色的被測物，其測量頭是純機械結構的光學部件，不含電子元器件，杜絕電磁干擾和高溫影響。同時，它使用的是白色直射可見光，完美適應弧面和深孔等測量應用。

基于以上優(yōu)異的產品特性，OC Sharp十分適用于電子和太陽能行業(yè)中半導體硅片表面晶相測量，制藥行業(yè)中試管內藥物液位高精度測量，玻璃行業(yè)中玻璃高精度測厚，以及包裝等行業(yè)中薄膜測厚。

特性規(guī)格
   
    ▪  產品量程從600微米到12毫米

▪  光譜共焦法原理傳感器帶來高精度和高可靠性

▪  極高的測量頻率，達4,000 Hz

▪  廣泛適用于各種材料和顏色被測物的高精度穩(wěn)定測量

▪  一個測量頭即可以精確測量極薄透明薄膜的厚度

▪  最小4微米的極小光點，可以測量非常小的被測物

▪  最高5.5納米的分辨率

▪  一臺控制器同時連接一個測量頭工作

▪  測距，透明測厚和干涉法測厚三種測量工作模式

▪  免費操作軟件，使用方便

應用領域：

▪  高精度識別測量：比如汽車行業(yè)發(fā)動機和變速箱等核心部件的尺寸測量，機床行業(yè)的高精度加工件測量

▪  薄膜厚度測量：比如吹膜機膜厚監(jiān)控，流延膜厚監(jiān)控

▪  精密制造及組裝行業(yè)：比如軸承鋼珠外形監(jiān)控，細孔深度測量

▪  電子及太陽能：半導體硅片表面物相監(jiān)控

▪  電子及太陽能：電路板質量監(jiān)控，高精度IC針腳監(jiān)控，比如硬盤制造，消費電子產品組裝質量監(jiān)控

▪  透明玻璃厚度檢測：比如顯示屏玻璃平面度及厚度測量，鏡頭或鏡片鍍膜厚度檢測

客戶受益：

▪  得益于傳感器納米級的高精度和4K的測量頻率，可以高速高精度的檢測各種物體

▪  極高的精度和極大的允許傾斜角度，讓現(xiàn)場使用非常靈活，節(jié)省成本

▪  單頭測量透明物體厚度，為高精度透明物體測量提供高性價比方案

▪  得益于其極小的光斑，該傳感器可以用來測量極小的被測物，比如IC針腳，或者極小的孔深，而這些原來的接觸式或者三角測量法傳感器都無法實現(xiàn)，為客戶的測量提供新的可能方案。

▪  非接觸性式，無需特殊安裝設備及免示教的測量技術，為客戶節(jié)省安裝調試及后期維護時間，節(jié)省成本。

▪  隨機附帶的操作軟件，為客戶節(jié)省時間和成本