完整的IC產業(yè)鏈，包括設計、制造、測試等諸多環(huán)節(jié)。其中，檢測IC產品在制造過程中發(fā)生的瑕疵、并找出原因的測試環(huán)節(jié)，一直是深圳IC產業(yè)鏈的一個“斷層”。深圳市目前還沒有一個可以為企業(yè)提供測試服務的技術平臺。IC設計企業(yè)產品出來后，只好拿到上海、
廣州甚至國外去測試，企業(yè)成本大大增加。

該測試平臺建成后，各類芯片的研發(fā)和小批量的測試問題將得到解決，可以為珠三角的IC設計公司、晶圓制造廠和大量的IC產品用戶，提供測試工程服務、電路失效分析及驗證服務等。