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| 【LabVIEW2016領(lǐng)先的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺(tái)】 |
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試用NI LabVIEW
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| 工程類課程創(chuàng)新教學(xué)開課指導(dǎo)書及資源包 |
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隨著國(guó)內(nèi)基礎(chǔ)教學(xué)改革的深入，工程類課程創(chuàng)新教學(xué)
相關(guān)課程的教學(xué)正逐漸融合最新技術(shù)，倡導(dǎo)積極動(dòng)手
、創(chuàng)新實(shí)踐并將書本理論和工業(yè)技術(shù)相連接，幫助學(xué)
生能夠系統(tǒng)地掌握基本概念、基本定律、基本理論和
基本分析方法的同時(shí)，增強(qiáng)學(xué)生發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、分析問(wèn)題
、解決真實(shí)問(wèn)題的能力。
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| 全新CompactDAQ，簡(jiǎn)化您的測(cè)量系統(tǒng) |
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全新的NI CompactDAQ控制器在小巧堅(jiān)固的外殼內(nèi)集成了處理器、可移動(dòng)SD存儲(chǔ)和具有高品質(zhì)信號(hào)調(diào)理的測(cè)量以及數(shù)字、計(jì)數(shù)器和通信總線I/O。 您可以在降低系統(tǒng)成本和復(fù)雜度的同時(shí)提高精確度。
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| 測(cè)量系統(tǒng)開發(fā)完全指南 |
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本指南分成了10個(gè)部分，為您詳細(xì)介紹了選擇正確測(cè)量系統(tǒng)組件的步驟。讓您選擇適合您測(cè)量應(yīng)用的軟硬件。
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| NI SMU - 電性能測(cè)試的最佳選擇 |
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源測(cè)量單元(SMU)可同時(shí)控制與量測(cè)高精度電壓、電流，專為消費(fèi)性電子產(chǎn)品、IC設(shè)計(jì)與驗(yàn)證、生醫(yī)、學(xué)術(shù)研究等實(shí)驗(yàn)室提供電性能測(cè)試。NI為自動(dòng)化測(cè)試的領(lǐng)導(dǎo)者，透過(guò)PXI平臺(tái)、源測(cè)量單元與其他模塊化儀器，為用戶提供定制化、彈性擴(kuò)充與高精度測(cè)試解決方案。
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| 什么是CompactDAQ？ |
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CompactDAQ系統(tǒng)
CompactDAQ是一個(gè)堅(jiān)固耐用的便攜式數(shù)據(jù)采集平臺(tái)，它將連接和信號(hào)調(diào)理功能與模塊化I/O相集成，可直接連接任何傳感器或信號(hào)。 CompactDAQ與LabVIEW軟件相結(jié)合，可用于自定義采集、分析、顯示和管理測(cè)量數(shù)據(jù)的方法。 NI提供了可編程軟件、高精度測(cè)量以及當(dāng)?shù)丶夹g(shù)支持，以確保您能夠滿足從研究、開發(fā)到驗(yàn)證等不同階段的測(cè)量應(yīng)用需求。
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